电阻率超高温探针台是一种用于精确测量材料在高温条件下电阻率的先进设备。
核心功能：
电阻率测量
通过四探针法结合高温环境，精确测量半导体材料、导电薄膜、金属材料等在高温下的电阻率，为材料科学研究提供关键数据。
变温电学性能测试
可表征材料电学特性(如电阻、电导率)随温度的变化规律，支持从室温至超高温(如1700℃)的宽范围测试。
多参数同步分析
集成电学模块(探针、位移机构、接口)与光学模块(反射/透射光路)，支持电阻率、温度、电导率等数据的实时同步采集与曲线图显示。
电阻率超高温探针台技术特点：
超宽温度范围与高精度控温
温度范围：RT(室温)至1700℃，部分型号支持4K低温至超高温。
控温精度：±0.1℃，确保温度稳定性对电阻率测量的影响最小化。
温控方式：集成液氦制冷、液氮制冷、热电制冷、电阻加热、红外加热、激光加热等多种方案，适应不同实验需求。
四探针法与高精度探针
采用四探针测试治具(直线型或等间距型)，消除接触电阻影响，提升测量精度。
探针材质可选镀金钨针、钨钢铼针等，尖端直径达10μm，支持纳米级样品测试。
模块化设计与高兼容性
探针台分为内部调节、外部调节、电控调节等类型，适配不同样品尺寸与测试场景。
支持多语言SDK(如Labview、C#)，便于与外部测量仪器(源表、数字万用表)集成。
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