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介电温谱、频谱测试系统
简要描述:

介电温谱、频谱测试系统用于研究材料(如块体、薄膜等)的介电性能(介电常数、损耗因子等)随温度(温谱)和频率(频谱)的变化规律。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-08-26
  • 访  问  量:4004

详细介绍

介电温谱/频谱测试系统用于研究材料(如块体、薄膜等)的介电性能(介电常数、损耗因子等)随温度(温谱)和频率(频谱)的变化规律。该系统核心组件包括LCR电桥、探针冷热台及专用测试软件,可精准测量并分析材料在不同温度和不同频率下的介电特性。


介电温谱、频谱测试系统硬件配置:

1、电桥LCR(keysight、同惠、日置、稳科等各类品牌产品)

2、探针冷热台(CH600-190-P4等型号)



介电温谱、频谱测试系统规格参数:

1、温度范围:-190~600℃ / RT~1000℃(选型)

2、温度稳定性:±0.1℃

3、冷热方式:液氮致冷,电阻加热

4、载样台材质:银质

5、载样台尺寸:23mm*23mm

6、腔体环境:气密/真空

7、探针材质及数量:紫铜镀金或钨钢镀金,4或8个(选型)


介电温谱、频谱测试系统


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